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      ICT測試儀測試方式7

          ICT測試儀測試方式7

           7)、場效感應管(測試類別:F

      這方法是測試場效感應管的VDS ,通過調節柵極電壓VG (Drive)及負載Rc(Range)。無論是N-Channel
      P-Channel,漏極(D)針號設在CH+,源極(S)針號設在CH-,柵極(G)針號設在G1。
      VG 調節范圍為:-2000mV~5000mVN-FETP-FET)。Rc調節范圍為:1200歐)、2100歐)、
      367歐)。
      a).N-FET
                                     

          當VG為正值且越大時,IDS也越大, D極與S極導通越好,VDS相對越小, 這是N-FET的特性。相反地,當VG為負值
          且越小時,
       IDS也越小,D 極與 S極阻抗越大,VDS越接近5V。

          若只測試組件是否存在,只將VG調至5V 即可,若還想測試組件是否有短路, 可加多一測試步,將VG 調至0即可。
            b).P-FET 


                                                 

         當VG為負值且越小時,IDS也越大,D極與S極導通越好,VDS相對越小,這是P-FET的特性。相反地,當VG為正值
         且越大時,
      IDS也越小,D極與S 極阻 抗越大,VDS越接近5V。
         若只測試組件是否存在,只將VG調至-2V即可,若還想測試組件是否有短路,可加多一測試步,將VG調至0V即可。


       



         

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